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| 行業專用類型 | 地質巖礦 | 價格區間 | 30萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應用領域 | 化工,石油,地礦,能源 |
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種射線式分析儀器，是X射線分析儀器的一種常用形式。能分析原子序數 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。
X射線是一種電磁輻射，其波長介于紫外線和γ射線之間。它的波長沒有一個嚴格的界限，一般來說是指波長為0.001-50nm的電磁輻射。X射線是用高速電子轟擊原子的內層電子，使之處于高激發狀態，同時外層的電子躍遷到缺少電子的內層軌道。在此過程中會伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長小，肉眼不可見，稱之為X射線。
如果用高速電子激發產生的X射線又作為激發源(可稱之為一次X射線)去轟擊別的原子的內層電子，同樣可產生X射線，只是這種X射線的能量較一次X射線低，波長也較長，這種射線稱為二次X射線或X射線熒光、熒光X射線。X射線熒光的波長是以受激物質(待測物質)的原子序數為特征的，原子序數越大的物質波長越短。各種不同的元素都有本身的特征X射線熒光波長，這是用X射線熒光原理的X射線熒光光譜儀進行定性分析的依據;而元素受激發射出來的特征X 射線熒光的強度則取決于該元素的含量，這是定量分析的依據。
基本原理如下：
X射線熒光光譜儀(XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調查和研究，地球化學，法醫學，考古學和藝術品，例如油畫和壁畫。
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。
b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。
c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。
波長色散型和能量型譜儀原理圖：
