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| 行業專用類型 | 地質巖礦 | 價格區間 | 30萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應用領域 | 化工,石油,地礦,能源 |
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種用于測量物質中元素含量的儀器。它通過激發樣品中的原子，使其發射X射線，然后檢測X射線的能量和數量，從而確定樣品中各元素的含量。本儀器可以測量幾乎所有元素，包括金屬、非金屬和有機物質。它可以用于分析各種樣品，如礦石、礦物、巖石、土壤、植物、食品、藥物、建筑材料、污染物等。優點是快速、準確、靈敏度高，可以在短時間內測量大量樣品，而且可以在現場進行測量，不需要進行樣品前處理。
X射線是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在0.1~100 keV的光子。X射線與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。
X射線的產生：
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的K射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。
連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受到靶原子核的庫侖力作用，突然改變速度而產生的電磁輻射(如右圖)。由于在撞擊時，有的帶電粒子在一次碰撞中損失全部能量，有的帶電粒子同靶發生多次碰撞逐步損失其能量，直到喪失為止，因而產生的波長是具有連續分布的電磁波。因此，它也稱為韌致輻射、白色X射線或多色X射線。
特征譜線的產生則是基于不同的機理：
a)入射X射線轟擊原子的內層電子，如果能量大于它的吸收邊，該內層電子被驅逐出整個原子(整個原子處于高能態，即激發態)。
b)較高能級的電子躍遷，補充空穴，整個原子回到低能態，即基態。
c)由高能態轉化為低能態，釋放能量。△E=Eh-E1
d)能量如果以X射線的形式釋放，則會產生X射線熒光。(如下圖)
產生過程：內層電子被激發，原子不穩定(激發態)，外層電子躍遷到內層空穴，躍遷過程產生能量差，能量差以X射線的形式釋放。
特征譜線：每一個軌道上的電子能量是一定的，因此電子躍遷產生的能量差是一定的，釋放的X射線的能量也是一定的，而這個特定的能量與元素種類有關，即每個元素都有其特征譜線。
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。
X射線熒光光譜儀(XRF)具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。
常見問題：
1. 為什么要求XRF測試粉末樣品用量達到3 g以上較好？
因為需要和淀粉一起壓片做，如果樣品量太少的，需要加很多淀粉容易導致結果不準確。
2. 為什么XRF測試要求薄膜(塊體)樣品尺寸直接要大于2.5 cm？
因為放置薄膜(塊體)樣品需要放進測試槽，測試槽的直徑是2.5 cm，如果樣品太小會固定不了。
3. XRF測試可以精確到多少？
XRF測試原則上可以精確到ppm級別的，但這個精度是基于標準物質的，常規的XRF測試只是半定量測試，誤差不好判斷，僅作為元素含量百分比的參考。